Statistical pattern recognition / Andrew R. Webb, Keith D. Copsey

Por: Webb, A. R., (Andrew R.) [autor]Colaborador(es): Copsey, Keith D [autor]Tipo de material: Texto

TextoEditor: Hoboken : Wiley, 2011Edición: Third editionDescripción: xxiv, 642 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9780470682272; 9780470682289Tema(s): Modelo de reconocimiento -- Métodos estadísticosClasificación CDD: 006.4 Clasificación LoC:Q327 | W43 2011

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