Statistical pattern recognition / Andrew R. Webb, Keith D. Copsey
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TextoEditor: Hoboken : Wiley, 2011Edición: Third editionDescripción: xxiv, 642 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9780470682272; 9780470682289Tema(s): Modelo de reconocimiento -- Métodos estadísticosClasificación CDD: 006.4 Clasificación LoC:Q327 | W43 2011
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | General | Q327 W43 2011 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 13690 |
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