Vista normal Vista MARC Vista ISBD

Webb, A. R.,

Statistical pattern recognition / Andrew R. Webb, Keith D. Copsey - Third edition - xxiv, 642 páginas : ilustraciones

ISBN: 9780470682272 9780470682289

Subjects--Topical Terms:
Modelo de reconocimiento--Métodos estadísticos

LC Class. No.: Q327 / W43 2011

Dewey Class. No.: 006.4